首頁
>
產品資訊
>
光學測定機
>
顯微鏡
>
白光干涉解析WLI Plan Apo
產品資訊
白光干涉解析WLI Plan Apo
三豐儀器針對業界需求進行新開發的商品
白光干涉解析WLI Plan Apo
主要特點
- 全新設計,與 WLI-Unit 完美搭配可進行光學3D形貌成像解析
- 具有長工作距離、體積小與輕量化設計(共焦 60 mm)
- 專長的平場復消色差鏡設計可在整個可見光譜範圍內實現平場和色差校正
- 優異的放大倍率干涉條紋調整機制,相容於所有環境溫度可進行調整