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對物鏡 Microscope Lens

Mitutoyo的顯微物鏡模組專為半導體、電子及液晶產業設計,具備多波段觀察能力,涵蓋紫外光、可見光及近紅外光範圍。其長工作距離設計可提升作業效率,適用於精密厚度量測、內部結構非破壞性評估及高解析度成像。該物鏡兼容多種觀察設備,如數位顯微鏡及雷射加工裝置,能無縫進行局部修正,適合用於MEMS內部評估及半導體封裝觀察

對物鏡 Microscope Lens
Product Description01
SURFTEST SJ-210 SERIES