Hyper Quick Vision WLI系列非接觸3D量測系統是一款先進的高精度量測儀器。其搭載白色光干涉計（WLI）光學頭，能夠實現高分辨率的2D與3D測量，適用於各種測量表面。無論是微細領域的表面解析、孔深測量，還是基板配線尺寸等，都能提供精確的結果。該系統特有的自動化測量功能和多功能軟件支援，使其能夠高效率完成各種測量任務，適用於半導體、電子元件、PCB、精密加工等多個產業，顯著提高測量效率和品質。

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SURFTEST SJ-210 SERIES

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