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歡迎報名【雷射光學與白光干涉量測技術應用研討會】

雷射光學與白光干涉量測技術應用研討會

從光學量測基礎、白光干涉原理到微細結構與表面形貌應用

隨著精密製造與半導體製程技術的快速革新，微米甚至奈米級的量測精度已成為提升產品良率的關鍵。

為了協助您突破實務上的檢測瓶頸，台灣三豐儀器與工業技術研究院量測技術發展中心攜手合作，將於 2026年11月5日（四） 舉辦【雷射光學與白光干涉量測技術應用研討會】。

本場研討會專為台灣三豐客戶量身打造，將深入解析雷射光學與白光干涉（WLI）的量測原理，並針對 2D/3D 影像量測儀的檢測技術進行實務分享。現場更安排了白光干涉量測實機展示與技術交流，讓您親自體驗高效能的量測操作，並與產研專家面對面探討您的量測難題！

本場研討會特別推薦下列對象：

精密機械、半導體、電子零組件、光電、模具、材料產業之研發、製程與品保量測相關人員。

需要進行微小階差、表面粗糙度、微細結構與3D表面形貌分析之技術人員。

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活動資訊

• 活動日期：2026 年 11 月 5 日（星期四）09:00 – 16:00

• 活動地點：新竹市光復路二段 321 號（工研院光復院區 1 館 804 室）

• 活動費用：完全免費

• 活動名額：限量 60 名（因席次有限，採資格審核制，三豐客戶優先錄取）

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活動議程

報名方式

請於【10月29日前】點選下方連結，完成線上報名。

期待您的蒞臨，與我們一同激盪精密量測的新思維！